Lavoisier S.A.S.
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Nous trouvons 344 ouvrages correspondant à Métrologie

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  1. Couverture de l'ouvrage Terahertz Metrology
    Auteur : NAFTALY Mira
    Langue : Anglais
    02-2015360 p.
    This book presents you with a review of modern THz systems and devices, followed by chapters detailing the measurement issues encountered in using each of the main types of THz systems, and a...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 16 jours).
    Relié Prix indicatif 217,91 € Ajouter au panier
  2. Couverture de l'ouvrage Theory of Inelastic Scattering and Absorption of X-rays
    Auteur : van Veenendaal Michel
    Langue : Anglais
    01-2015237 p.18x25.5 cm
    This comprehensive, self-contained guide to X-ray spectroscopy will equip you with everything you need to begin extracting the maximum amount of information available from X-ray spectra. Key...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 14 jours).
    Relié Prix indicatif 63,89 € Ajouter au panier
  3. Couverture de l'ouvrage Introduction to Radiometry and Photometry
    Auteur : MCCLUNEY William Ross
    Langue : Anglais
    12-2014
    This second edition of an Artech House classic title describes in detail the relationship between radiometry and photometry. It covers information needed to solve problems in radiation transfer...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 16 jours).
    Prix indicatif 217,91 € Ajouter au panier
  4. Couverture de l'ouvrage Magnetic Microscopy of Layered Structures
    Auteurs : Kuch Wolfgang , Schäfer Rudolf , Fischer Peter , Hillebrecht Franz Ulrich
    Langue : Anglais
    11-2014246 p.15.5x23.5 cm
    This book presents the important analytical technique of magnetic microscopy. This method is applied to analyze layered structures with high resolution. This book presents a number of...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Relié Prix indicatif 126,59 € Ajouter au panier
  5. Couverture de l'ouvrage Nonrelativistic Quantum X-Ray Physics
    Auteur : Hau–Riege Stefan P.
    Langue : Anglais
    11-2014320 p.18.3x24.8 cm
    Providing a solid theoretical background in photon–matter interaction, this book enables readers to understand experiments performed at XFEL facilities and X–ray synchrotrons. As a result, after...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 12 jours).
    Relié Prix indicatif 117,72 € Ajouter au panier
  6. Couverture de l'ouvrage State-of-the-Art Infrared Detector Technology
    Auteur : KINCH Michael
    Langue : Anglais
    10-2014261 p.
    Scientists, engineers, managers, and policy makers who are currently involved in the funding of infrared R&D and subsequent system design and manufacture are confronted with a choice between two...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 99,41 € Ajouter au panier
  7. Couverture de l'ouvrage Methods of experimental physics
    Langue : Anglais
    10-201415.6x23.5 cm
    Based on the modern approach of information theory, this book presents novel experimental techniques, tools, and data processing methods for physics applications. It shows readers how to plan and...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Broché 121,02 € Ajouter au panier
  8. Couverture de l'ouvrage Optical Nanoscopy and Novel Microscopy Techniques
    Langue : Anglais
    09-2014248 p.15.6x23.5 cm
    Microscopy is at the forefront of multidisciplinary research. It was developed by physicists, made specific by chemists, and applied by biologists and doctors to better understand how the human...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Relié 139,00 € Ajouter au panier
  9. Couverture de l'ouvrage Non-Imaging Microwave and Millimetre-Wave Sensors for Concealed Object Detection
    Auteurs : Kapilevich Boris Y. , Harmer Stuart W. , Bowring Nicholas J.
    Langue : Anglais
    09-2014232 p.15.6x23.5 cm
    In response to the ever-increasing global threat of terrorist attacks, the personal screening industry has been growing at a rapid rate. Many methods have been developed for detecting concealed...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Relié Prix indicatif 165,19 € Ajouter au panier
  10. Auteur : SCHIAVON
    Langue : Français
    08-2014
    La mesure de précision ne relève pas uniquement de la science : elle a été interprétée et négociée dans d'autres espaces, par d’autres acteurs. Les militaires ont ainsi été, avec les fabricants...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 6 jours).
    Broché 32,00 € Ajouter au panier
  11. Couverture de l'ouvrage Nanocharacterization by Atom Probe Tomography
    Auteurs : Miller Michael K. , Forbes Richard G.
    Langue : Anglais
    08-2014423 p.15.5x23.5 cm
    Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Relié Prix indicatif 147,69 € Ajouter au panier
  12. Couverture de l'ouvrage Fluorescence Lifetime Spectroscopy and Imaging
    Langue : Anglais
    07-2014554 p.17.8x25.4 cm
    During the past two decades, there has been an increasing appreciation of the significant value that lifetime-based techniques can add to biomedical studies and applications of fluorescence...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Relié Prix indicatif 199,58 € Ajouter au panier
  13. Couverture de l'ouvrage Uncertainty Theories and Multisensor Data Fusion
    Langue : Anglais
    07-2014262 p.16.2x23.8 cm
    Addressing recent challenges and developments in this growing field, Multisensor Data Fusion Uncertainty Theory first discusses basic questions such as: Why and when is multiple sensor fusion...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Relié Prix indicatif 164,18 € Ajouter au panier
  14. Couverture de l'ouvrage Instrumentation Mesure Métrologie Volume 14 N° 1-2/Janvier-Juin 2014
    Auteurs : JAFFREZIC-RENAULT Nicole, BALAGEAS Daniel, PLACKO Dominique
    Langue : Français
    06-2014174 p.16x24 cm
    Mesures nanométriques , - pp.8-30 . Instrumentation en électrochimie. Développements et perspectives pour les mesures locales, D. Rose, V. Vivier - pp.9-30 . Stockage dénergie , - pp.30-68...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 140,00 € Ajouter au panier
  15. Couverture de l'ouvrage Smart Sensor Systems
    Langue : Anglais
    05-2014296 p.17.7x25.2 cm
    Uses a multidisciplinary approach to review recent developments in the field of smart sensor systems, providing complete coverage of all important system and design aspects, their building blocks...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 12 jours).
    Relié Prix indicatif 101,33 € Ajouter au panier
  16. Couverture de l'ouvrage Measurement While Drilling (MWD) Signal Analysis, Optimization and Design
    Auteur : CHIN Wilson C.
    Langue : Anglais
    05-2014
    Trade magazines and review articles describe MWD in casual terms, e.g., positive versus negative pulsers, continuous wave systems, drilling channel noise and attenuation, in very simple terms...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 12 jours).
    Prix indicatif 178,60 € Ajouter au panier
  17. Auteur : ISABEL Guy
    Langue : Français
    05-201415x21 cm
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 3 jours).
    Broché 12,00 € Ajouter au panier
    ePub PDF Mobipocket 8,49 € Télécharger
  18. Couverture de l'ouvrage LACAME 2010
    Langue : Anglais
    04-2014314 p.15.5x23.5 cm
    The broad scope of the Applications of the Mössbauer Effect to interdisciplinary subjects makes this volume an outstanding source of information to researchers and graduate students, who will find...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 167,60 € Ajouter au panier
  19. Couverture de l'ouvrage Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
    Langue : Anglais
    04-2014182 p.15.5x23.5 cm
    Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 118,31 € Ajouter au panier
  20. Couverture de l'ouvrage Viscometry for Liquids
    Auteur : Gupta S. V.
    Langue : Anglais
    03-2014256 p.15.5x23.5 cm
    This book is written for scientists involved in the calibration of viscometers. A detailed description for stepping up procedures to establish the viscosity scale and obtaining sets of master...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Relié Prix indicatif 126,59 € Ajouter au panier
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