Lavoisier S.A.S.
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Nous trouvons 344 ouvrages correspondant à Métrologie

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  1. Auteurs : Raol Jitendra R. , Gopalratnam Girija , Twala Bhekisipho
    Langue : Anglais
    06-201721.6x27.9 cm
    Nonlinear Filtering covers linear and nonlinear filtering in a comprehensive manner, with appropriate theoretic and practical development. Aspects of modeling, estimation, recursive filtering...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Relié Prix indicatif 181,72 € Ajouter au panier
  2. Couverture de l'ouvrage Instrumentation Mesure Métrologie Volume 15 N° 3-4/Juillet-Décembre 2016
    Auteurs : VOURC'H Éric, PICART Pascal, AUGER François
    Langue : Français
    06-2017214 p.16x24 cm
    Chauffage par effet plasmon pour la désorption localisée de cellules capturées sur une biopuce, Élodie ENGEL, Radoslaw BOMBERA, Loïc LEROY, Roberto CALEMCZUK, Loïc LAPLATINE, Dieudonné R...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 150,00 € Ajouter au panier
  3. Couverture de l'ouvrage La microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG) des tolérances
    Auteur : KHOUCHAF Lahcen
    Langue : Français
    05-2017264 p.19x24 cm
    Ce livre porte sur l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG), très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 3 jours).
    Broché 55,00 € Ajouter au panier
  4. Couverture de l'ouvrage Introduction to Instrumentation and Measurements
    Auteur : Northrop Robert B.
    Langue : Anglais
    03-201717.8x25.4 cm
    Weighing in on the growth of innovative technologies, the adoption of new standards, and the lack of educational development as it relates to current and emerging applications, the third edition...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Broché Prix indicatif 69,51 € Ajouter au panier
  5. Couverture de l'ouvrage Bases en technique du vide
    Auteurs : ROMMEL Guy, ROUVIERE Nelly
    Langue : Français
    03-2017255 p.16.5x25 cm
    Cette seconde édition, 20 ans après la première, devrait continuer à aider les techniciens pour la réalisation de leur système de vide. . . La technologie du vide est utilisée, à présent, dans de...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 3 jours).
    Broché Prix indicatif 65,00 € Ajouter au panier
  6. Couverture de l'ouvrage Instrumentation Mesure Métrologie Volume 15 N° 1-2/Janvier-Juin 2016
    Auteurs : VOURC'H Éric, PICART Pascal, AUGER François
    Langue : Français
    12-2016160 p.
    Imagerie à réinjection optique dans un microlaser continu Nd3+ : YAG, Olivier JACQUIN, Olivier HUGON, Vadim GIRARDEAU, Éric LACOT - pp.9-36 . Suivi du comportement thermo-mécanique d'une voie...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 150,00 € Ajouter au panier
  7. Couverture de l'ouvrage Electrical Impedance
    Auteur : Callegaro Luca
    Langue : Anglais
    11-201615.6x23.5 cm
    Electrical Impedance: Principles, Measurement, and Applications provides a modern and much-needed overview of electrical impedance measurement science and its application in metrology, sensor...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Broché Prix indicatif 80,69 € Ajouter au panier
  8. Couverture de l'ouvrage Une belle histoire de la lumière et des couleurs
    Auteur : VALEUR Bernard
    Langue : Français
    11-2016216 p.25x26.5 cm
    Combien y a-t-il réellement de couleurs dans l’arc-en-ciel? Pourquoi la lumière des écrans perturbe-t-elle notre horloge biologique ? Une rose peut-elle être bleue ? Comment font les poissons des...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 5 jours).
    Broché 29,90 € Ajouter au panier
  9. Couverture de l'ouvrage Hyperspectral Imaging Technology in Food and Agriculture
    Langue : Anglais
    10-2016403 p.15.5x23.5 cm
    Hyperspectral imaging or imaging spectroscopy is a novel technology for acquiring and analysing an image of a real scene by computers and other devices in order to obtain quantitative information...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 108,44 € Ajouter au panier
  10. Couverture de l'ouvrage Advanced Electron Microscopy
    Langue : Anglais
    10-2016Imprimé à la demande272 p.15.5x23.5 cm
    This book introduces the current understanding of materials in the context of the new and continuously emerging techniques in the field of electron microscopy. The authors present applications of...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 118,31 € Ajouter au panier
  11. Couverture de l'ouvrage Modern Optical Spectroscopy
    Auteur : Parson William W.
    Langue : Anglais
    10-2016Imprimé à la demande572 p.15.5x23.5 cm
    This textbook offers clear explanations of optical spectroscopic phenomena and shows how spectroscopic techniques are used in modern molecular and cellular biophysics and biochemistry. The topics...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 88,73 € Ajouter au panier
  12. Couverture de l'ouvrage Advanced Photon Counting
    Langue : Anglais
    10-2016Imprimé à la demande370 p.15.5x23.5 cm
    This volume focuses on Time-Correlated Single Photon Counting (TCSPC), a powerful tool allowing luminescence lifetime measurements to be made with high temporal resolution, even on single...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 246,48 € Ajouter au panier
  13. Couverture de l'ouvrage Introduction to Quantum Metrology
    Auteur : Nawrocki Waldemar
    Langue : Polonais
    10-2016Imprimé à la demande279 p.15.5x23.5 cm
    This book presents the theory of quantum effects used in metrology and results of the author’s own research in the field of quantum electronics. The book provides also quantum measurement...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché 118,31 € Ajouter au panier
  14. Couverture de l'ouvrage Far-Field Optical Nanoscopy
    Langue : Anglais
    10-2016Imprimé à la demande335 p.15.5x23.5 cm
    This book describes developments in the field of super-resolution fluorescence microscopy or nanoscopy. In 11 chapters, distinguished scientists and leaders in their respective fields describe...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 246,48 € Ajouter au panier
  15. Couverture de l'ouvrage Instrument and Automation Engineers' Handbook - 2 Volume Set
    Langue : Anglais
    10-20163046 p.21.6x27.9 cm
    The Instrument and Automation Engineers’ Handbook (IAEH) is the #1 process automation handbook in the world. The two volumes in this greatly expanded Fifth Edition deal with measurement devices...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 13 jours).
    Relié Prix indicatif 476,65 € Ajouter au panier
  16. Couverture de l'ouvrage Methodology, Models and Algorithms in Thermographic Diagnostics
    Auteurs : Živčák Jozef , Hudák Radovan , Madarász Ladislav , Rudas Imre J.
    Langue : Anglais
    09-2016Imprimé à la demande222 p.15.5x23.5 cm
    This book presents the methodology and techniques of thermographic applications with focus primarily on medical thermography implemented for parametrizing the diagnostics of the human body. The...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 116,04 € Ajouter au panier
  17. Couverture de l'ouvrage Métrologie dimensionnelle
    Auteur : DURSAPT Michel
    Langue : Français
    09-2016208 p.13.5x19 cm
    Le génie mécanique fait appel à tous ses niveaux (conception, production, contrôle) à la nécessité de définir, de réaliser et de vérifier la géométrie de produits industriels. Cette nécessité...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 3 jours).
    Broché 30,50 € Ajouter au panier
  18. Couverture de l'ouvrage Nanocharacterization by Atom Probe Tomography
    Auteurs : Miller Michael K. , Forbes Richard G.
    Langue : Anglais
    09-2016Imprimé à la demande423 p.15.5x23.5 cm
    Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 138,03 € Ajouter au panier
  19. Couverture de l'ouvrage Contrôle machines-outils (Réf : 9Q285)
    Auteurs : CHAINTREUIL Thierry, SESSA Pascal, VINCENT Rénald
    Langue : Français
    08-201652 p.21x29.8 cmQuadrichromie
    Le Cetim s'est récemment équipé d'un nouvel outil, le laser-tracer, pour le contrôle et la calibration des machines-outils et machines à mesurer 3D. Dans le présent rapport, les auteurs analysent...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 5 jours).
    Broché 100,00 € Ajouter au panier
  20. Couverture de l'ouvrage Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis
    Auteurs : Benediktovich Andrei , Feranchuk Ilya , Ulyanenkov Alexander
    Langue : Anglais
    08-2016Imprimé à la demande318 p.15.5x23.5 cm
    This book provides a concise survey of modern theoretical concepts of X-ray materials analysis. The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
    Broché Prix indicatif 118,31 € Ajouter au panier
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