Bias Temperature Instability for Devices and Circuits, Softcover reprint of the original 1st ed. 2014
Coordonnateur : Grasser Tibor
Enables readers to understand and model negative bias temperature instability, with an emphasis on dynamics
Includes coverage of DC vs. AC stress, duty factor dependence and bias dependence
Explains time dependent defect spectroscopy, as a measurement method that operates on nanoscale MOSFETs
Introduces new defect model for metastable defect states, nonradiative multiphonon theory and stochastic behavior
Includes supplementary material: sn.pub/extras
Date de parution : 10-2016
Ouvrage de 810 p.
15.5x23.5 cm
Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
Prix indicatif 116,04 €
Ajouter au panierDate de parution : 10-2013
Ouvrage de 810 p.
15.5x23.5 cm
Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
Prix indicatif 158,24 €
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