Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V, Softcover reprint of the original 1st ed. 1986 Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 - October 4, 1985 Springer Series in Chemical Physics Series, Vol. 44
Coordonnateurs : Benninghoven Alfred, Colton Richard J., Simons David S., Werner Helmut W.
Date de parution : 04-1986
Date de parution : 01-2012
Ouvrage de 564 p.
15.5x23.5 cm
Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
Prix indicatif 105,49 €
Ajouter au panierThème de Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V :
Mots-clés :
Atom; Diffusion; Sorption; adsorption; catalyst; chemistry; crystal; hydrogen; isotope; mass spectrometry; materials science; metals; microscopy; spectrometry; structure