Circuit Design for Reliability, 2015
Coordonnateurs : Reis Ricardo, Cao Yu, Wirth Gilson
Provides comprehensive review on various reliability mechanisms at sub-45nm nodes
Describes practical modeling and characterization techniques for reliability
Includes thorough presentation of robust design techniques for major VLSI design units
Promotes physical understanding with first-principle simulations
Includes supplementary material: sn.pub/extras
Date de parution : 09-2016
Ouvrage de 272 p.
15.5x23.5 cm
Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
Prix indicatif 108,44 €
Ajouter au panierDate de parution : 11-2014
Ouvrage de 272 p.
15.5x23.5 cm
Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
Prix indicatif 105,49 €
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