Advances in Scanning Probe Microscopy, Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 Advances in Materials Research Series, Vol. 2
Coordonnateurs : Sakurai T., Watanabe Y.
Provides introduction to selected theoretical and experimental aspects of particular current interest in this rapidly developing field
Of interest to newcomers and established workers alike
Date de parution : 10-2012
Ouvrage de 343 p.
15.5x23.5 cm
Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 15 jours).
Prix indicatif 105,49 €
Ajouter au panierDate de parution : 03-2000
Ouvrage de 343 p.
15.5x23.5 cm
Thème d’Advances in Scanning Probe Microscopy :
Mots-clés :
AFM; Adsorption; Experiment; Fulleren; Fullerene; REM; STM