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Advances in Imaging and Electron Physics Advances in Imaging and Electron Physics Series, Vol. 124

Langue : Anglais

Auteur :

Couverture de l’ouvrage Advances in Imaging and Electron Physics
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.

V-Vector Algebra and Volterra Filters

A Brief Walk Through Sampling Theory

Kriging Filters for Space-Time Interpolation

Constructions of Orthogonal and Biorthogonal Scaling Functions and Multiwavelets Using Fractal Interpolation Surfaces

Diffraction Tomography for Turbid Media

Tree-Adapted Wavelet Shrinkage

Index

Date de parution :

Ouvrage de 400 p.

15.2x22.9 cm

Sous réserve de disponibilité chez l'éditeur.

236,94 €

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